試驗(yàn)回路的Q值主要是由電抗器的特性決定的。在實(shí)際工作中發(fā)現(xiàn)，10kV變頻諧振試驗(yàn)裝置在實(shí)際使用中的Q值往往比廠(chǎng)家提供的Q值大。而35kV及以上電壓等級(jí)的變頻諧振試驗(yàn)裝置在實(shí)際使用中的Q值往往會(huì)比廠(chǎng)家提供的Q值小，天氣惡劣時(shí)會(huì)小很多，隨著試驗(yàn)時(shí)間的增加Q值呈下降趨勢(shì)。從而導(dǎo)致按照廠(chǎng)家提供的Q值選擇的電源容量達(dá)不到現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的要求，zui嚴(yán)重的是電壓達(dá)不到試驗(yàn)所要求的耐壓值。

通過(guò)分析，不難發(fā)現(xiàn)，在參數(shù)計(jì)算中，試品的電容量、回路的電感量都是定值，但其中的Q值由于現(xiàn)場(chǎng)的干擾、接線(xiàn)布置、天氣影響、電抗器特性、擺放位置等各種不定因素的不同而發(fā)生改變。

10kV電纜系統(tǒng)試驗(yàn)多在開(kāi)關(guān)柜、環(huán)網(wǎng)箱處進(jìn)行，高壓引線(xiàn)不長(zhǎng)，引線(xiàn)對(duì)Q值的影響大大降低;由于開(kāi)關(guān)柜的間隔緊湊，空間小，使用高質(zhì)量的粗絕緣線(xiàn)，因此損耗下降，Q值比廠(chǎng)家提供的數(shù)值要高。

對(duì)于35kV及以上電壓等級(jí)的變頻諧振試驗(yàn)裝置在實(shí)際使用中的Q值往往會(huì)廠(chǎng)家提供的Q值小的情況，分析如下：

（1）高壓引線(xiàn)的影響

單項(xiàng)電氣設(shè)備進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，由于試品電容量小，高壓引線(xiàn)對(duì)試驗(yàn)的影響不大。戶(hù)外配電裝置整體進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，設(shè)備的安裝高度隨電壓等級(jí)增加，電壓等級(jí)越高，高壓引線(xiàn)越長(zhǎng)。一般高壓引線(xiàn)較長(zhǎng)，電暈損耗增強(qiáng)，回路中等效電阻增大。它形成的雜散電容并聯(lián)在被測(cè)電容上，回路諧振頻率下降，使得Q值下降;同時(shí)周?chē)姶艌?chǎng)的干擾也增大，使得Q值下降。因此，在進(jìn)行高電壓等級(jí)電氣設(shè)備交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，盡量采用波紋管高壓引線(xiàn)。

（2）天氣的影響

①濕度高的情況下，引線(xiàn)電暈損耗大大增加，同時(shí)周?chē)姶艌?chǎng)的干擾也增大，使得Q值下降。
②溫度高的情況下，回路等效電阻大大增加，使得Q值下降。

（3）試驗(yàn)時(shí)間的影響

隨著試驗(yàn)時(shí)間的延長(zhǎng)，設(shè)備受熱，等效電阻增大，Q值也呈下降趨勢(shì)。在大暑天這種現(xiàn)象十分顯著。往往設(shè)備需要體息30分鐘才能繼續(xù)使用。

（4）電抗器的影響

電抗器一般要求是無(wú)損耗電抗器，若是工藝不佳，往往損耗較大。另外，電抗器放置在鐵板等金屬部件上時(shí)，形成了渦流損耗，等效電阻增大。

（5）高電壓試驗(yàn)頻率不選合適諧振點(diǎn)對(duì)Q值的影響

在應(yīng)用中，發(fā)現(xiàn)當(dāng)電壓升到接近試驗(yàn)電壓時(shí)，電壓上升速度太快并伴有較大的電壓波動(dòng)，甚至能導(dǎo)致電壓保護(hù)動(dòng)作，使試驗(yàn)必須重新開(kāi)始，這對(duì)設(shè)備安全是不利的。但如果電壓保護(hù)值設(shè)定過(guò)大，就不能很好的起到保護(hù)被試設(shè)備免受過(guò)電壓的作用。因此，一般在2%試驗(yàn)電壓下調(diào)到合適諧振頻率，之后在不超過(guò)40%試驗(yàn)電壓情況下再調(diào)整一下頻率，且稍稍偏小一點(diǎn)，避免出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

綜上所述，在進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí)除了依靠電抗器良好的性能外，還要采取各種好的均壓措施和合理的選擇導(dǎo)線(xiàn)、合理的布置試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)、合理安排時(shí)間等盡量提高Q值，并且采取散熱等措施減少設(shè)備受熱對(duì)Q值的影響。另外，在廠(chǎng)家提供的Q值的基礎(chǔ)上配合現(xiàn)場(chǎng)接線(xiàn)布置情況適當(dāng)修正，放大裕度（如高壓引線(xiàn)較長(zhǎng)就適當(dāng)下降Q值），所計(jì)算下的電源容量就可以滿(mǎn)足試驗(yàn)所需的要求。